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日本nanogray X射線測(cè)厚儀SX-1100

日本nanogray X射線測(cè)厚儀SX-1100

更新日期:2024-05-15

訪問(wèn)量:1114

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址:

簡(jiǎn)要描述:
日本nanogray X射線測(cè)厚儀SX-1100
測(cè)厚儀(薄膜測(cè)厚儀)使用軟X射線(soft X-rays)。

日本nanogray X射線測(cè)厚儀SX-1100

測(cè)厚儀(薄膜測(cè)厚儀)使用軟X射線(soft X-rays)。以非接觸方式(軟 X 射線)測(cè)量片材和板狀物體的厚度和密度(基重)。不是直接測(cè)量厚度,而是通過(guò)與參考物質(zhì)比較來(lái)計(jì)算厚度和密度(基重)。
 通常,為了測(cè)量片材寬度方向的厚度分布,檢測(cè)系統(tǒng)由掃描儀攜帶進(jìn)行測(cè)量。激光位移計(jì)一般用作非接觸方式測(cè)量厚度的手段,但如果激光位移計(jì)安裝在掃描儀上,在運(yùn)輸過(guò)程中只能以遠(yuǎn)低于激光位移計(jì)的精度進(jìn)行運(yùn)輸, 導(dǎo)致結(jié)果. 高精度測(cè)量是困難的。
 另一方面,在X射線測(cè)厚儀等通過(guò)透射衰減估算厚度的方法中,測(cè)量的是空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減,但樣品的衰減遠(yuǎn)大于,傳輸?shù)挠绊懼槐憩F(xiàn)為空氣層厚度的變化,影響很小。因此,可以高精度地進(jìn)行測(cè)量。    

軟X射線測(cè)厚儀的一般特點(diǎn)

  1. 無(wú)需規(guī)定輻射處理負(fù)責(zé)人或X射線工作負(fù)責(zé)人或設(shè)置控制區(qū)域
    (需要通知?jiǎng)趧?dòng)標(biāo)準(zhǔn)檢查辦公室)

  2. 路徑錯(cuò)誤可以忽略

  3. 高元素依賴性


與傳統(tǒng)的軟 X 射線測(cè)厚儀相比,我們的軟 X 射線測(cè)厚儀的特點(diǎn)

  1. 探測(cè)器和 X 射線源結(jié)構(gòu)緊湊、重量輕,甚至可以安裝在狹窄的線路中。

  2. 測(cè)量范圍廣(材料/厚度)


用途

  • 銅箔、鋁箔、不銹鋼箔

  • 電池電極

  • 陶瓷(薄片、晶片)

  • 玻璃纖維布

日本nanogray X射線測(cè)厚儀SX-1100


X射線測(cè)厚儀SX-1100規(guī)格

物品規(guī)格
姓名X射線測(cè)厚儀SX-1100
測(cè)量方法X射線透射法
檢測(cè)方法閃爍探測(cè)器法
測(cè)量對(duì)象根據(jù)薄膜、箔等測(cè)量對(duì)象進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)
測(cè)量間距標(biāo)準(zhǔn)2mm(也可提供更細(xì)間距)
掃描寬度標(biāo)準(zhǔn)150-3000mm(也可提供其他寬度)
掃描速度15-200 毫米/秒(標(biāo)準(zhǔn))
框架結(jié)構(gòu)O型及其他各種車架
光斑尺寸約φ7.5mm(標(biāo)準(zhǔn))(工作中)
X射線源70 x 83 毫米 x 250 毫米(標(biāo)準(zhǔn))
檢測(cè)單元70 x 83 毫米 x 220 毫米(標(biāo)準(zhǔn))
電源100V單相1kVA


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